測試服務
京元電子具有豐富的系統級產品測試 (System Level Testing, SLT) 經驗，如AI晶片(AI GPU、AI ASIC及AI CPU)及手機晶片，從早期的Network分享器、DVD Player、南北橋晶片到近期的網通產品、車用產品，皆有相關測試經驗。測試設備也因應電子產品的發展趨勢，對應的積體電路產品大小以及測試溫度需求，性能亦隨之提昇，以因應未來的測試需求。
下表詳列目前測試設備的相關規格，請參照。
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機 型 |
WS-3000 |
HT-3060 |
HT-3012 |
HT-3012CX |
HT-3015CT |
ASFT3200 |
Titan |
ATS7038 |
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測位數 |
6 | 6 | 6 or 12 |
6 |
6 |
16 or 24 |
424 |
720 |
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測區尺吋 (Socket在正中間, mm x mm) |
350*350 |
395*400 |
550*550 (6 測位) |
570*590 |
570*580 |
410*910 (16 測位) |
88*115 |
630*610 |
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介面 |
RS232, TTL |
RS232, TTL |
RS232, TTL |
RS232, TTL |
RS232, TTL |
RS232, TTL |
RS232 |
RS232 |
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溫度 |
25℃~125℃ |
25℃~125℃ |
25℃~125℃ |
-55℃~130℃ |
-55℃~130℃ |
25℃~125℃ |
Ambient |
Ambient |
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接觸力道 |
20~60 Kg |
20~60 Kg |
20~100 Kg |
30~200 Kg |
30~300 Kg |
~450 Kg |
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